งานวิจัยนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อศึกษาของเสียที่เกิดขึ้นระหว่างกระบวนการผลิตเพื่อแก้ไขปัญหาการลดของเสียของกระบวนการผลิตชิ้นส่วนอุปกรณ์ฮาร์ดดิสไดร์ฟที่ส่งผลกระทบต่อคุณภาพสินค้าและต้นทุนการผลิต เครื่องมือที่นำมาใช้ในการลดของเสียของกระบวนการผลิตชิ้นส่วนอุปกรณ์ฮาร์ดดิสไดร์ฟ จะใช้เทคนิคเครื่องมือคุณภาพประกอบด้วย แผ่นตรวจสอบ Check Sheet, Pareto chart และเทคนิคการวิเคราะห์ปัญหา Why Why analysis เพื่อหาสาเหตุและวิเคราะห์ถึงปัญหาและแนวทางในการแก้ไขปัญหาที่สรุปจากผลการปฏิบัติงาน

       ผลการศึกษาการลดของเสียในกระบวนการผลิตชิ้นส่วนอุปกรณ์ฮาร์ดดิสไดร์ฟพบว่า มีของเสียจำนวนสูงที่สุดสองประเภท ได้แก่ อันดับที่หนึ่ง คือของเสียประเภท วัตถุแปลกปลอม จำนวน 9,833 ชิ้น หรือคิดเป็น 39.00 %  และของเสียอันดับที่สอง คือของเสียประเภทเศษชิปติด จำนวน 8,939 ชิ้น หรือคิดเป็น 35.4% จากของเสียทั้งหมดเฉลี่ยเป็น 74.4%  ภายหลังจากการปรับปรุงพบว่าของเสียลดลงเหลือ 13% คิดเป็นการลดของเสียลงถึง 82.52%